OrCAD PSpice. Анализ электрических цепей - [143]

Шрифт
Интервал

0,5 
CGSOУдельная емкость перекрытия затвор-сток (на единицу ширины)0Ф/м
CGDOУдельная емкость перекрытия затвор-исток (на единицу ширины)0Ф/м
CGBOУдельная емкость перекрытия затвор-подложка (на единицу ширины)0Ф/м
NSUBПлотность легирования подложки0см>-3
NSSПлотность медленных поверхностных состояний0см>-2
NFSПлотность быстрых поверхностных состояний0см>-2
TOXТолщина оксидного слоябесконечно большаям
TPGТип материала затвора: +1 противоположен типу подложки, -1 такой, как в подложке, 0 алюминий  
XJГлубина металлургического перехода0м
UOПоверхностная подвижность600см²/В×с
UCRITНапряженность критического снижения подвижности (для LEVEL = 2)  
UEXPПоказатель степени критического снижения напряженности (для LEVEL = 2)  
UTRA(Не используется) напряженность критического снижения поперечное подвижности  
VMAXМаксимальная скорость дрейфа0м/с
NEFF Коэффициент заряда канала (для LEVEL = 2)1  
XQCЧасть заряда канала, определяемая стоком1 
DELTAКоэффициент влияния ширины канала на пороговое напряжение0 
THETAКоэффициент модуляции подвижности (для LEVEL = 3)0В>-1
ETAКоэффициент статической обратной связи (для LEVEL = 3)0 
KAPPAКоэффициент насыщения поля (для LEVEL = 3)0,2 
KFКоэффициент спектральной плотности фликкер-шума0 
AFПоказатель спектральной плотности фликкер-шума1 

МОП-транзистор, который показан на рис. D.4, смоделирован как встроенный МОП-транзистор с омическим сопротивлением RD, включенным последовательно со стоком, омическим сопротивление RS, включенным последовательно с истоком, омическим сопротивлением RG последовательно с затвором и омическим сопротивлением RB последовательно с подложкой. Сопротивление утечки RDS подключено параллельно каналу (сток-исток).

Рис. D.4. Модель МОП-транзистора


Q — биполярный транзистор

Q<имя> <узел коллектора> <узел базы> <узел эмиттера> <[узел подложки]> <имя модели> [площадь]

Имя параметраПараметрЗначения по умолчаниюЕдиницы
ISТок насыщения pn-перехода1Е-16А
BFМаксимальный прямой коэффициент усиления для идеального транзистора100 
NFКоэффициент эмиссии тока при прямом смещении1 
VAF(VA)Напряжение Эрли при прямом смещенииБесконечно большоеВ
ISE (C2)Ток насыщения утечки перехода база-эмиттер0А
IKF (IK)Ток, соответствующий перегибу в зависимости коэффициента усиления от тока коллектораБесконечно большоеА
NEКоэффициент неидеальности перехода база-эмиттер1,5 
BRМаксимальный коэффициент усиления для идеального транзистора в инверсном режиме1 
NRКоэффициент неидеальности в инверсном режиме1 
VAR (VB)Напряжение Эрли в инверсном режимеБесконечно большоеВ
IKRТок, соответствующий точке перегиба в зависимости коэффициента усиления от тока коллектораБесконечно большоеА
ISC (C4)Ток насыщения утечки перехода база-коллектор0А
NCКоэффициент неидеальности коллекторного перехода2,0 
RBОбъемное сопротивление базы при нулевом смещении (максимальное)0Ом
RBMМинимальное сопротивление базыRBОм
REОмическое сопротивление эмиттера0Ом
RCОмическое сопротивление коллектора0Ом
CJEЕмкость перехода база-эмиттер при нулевом смещении0Ф
VJE(PE)Контактная разность потенциалов перехода база-эмиттер0,75В
MJE(ME)Градиентный коэффициент перехода база-эмиттер0,33 
CJCЕмкость перехода база-коллектор при нулевом смещении0Ф
VJCКонтактная разность потенциалов перехода база-коллектор0,75В
MJC (МС)Градиентный коэффициент перехода база-коллектор0,33 
XCJCДоля Cbc, связанная с Rb1 
CJSЕмкость перехода коллектор-подложка при нулевом смещении0Ф
VJS(PS)Контактная разность потенциалов перехода коллектор-подложка0,75 
MJS (MS)Градиентный коэффициент перехода коллектор-подложка0 
FCКоэффициент конденсатора истощения прямого смещения0,5 
TFПрямое время пролета для идеального транзистора0с
XTFКоэффициент для времени пролета0 
VTFНапряжение, характеризующее зависимость времени пролета от VbcБесконечно большоеВ
ITFТок, характеризующий зависимость времени пролета от Vbc0А
PTFДополнительный сдвиг фазы при частоте I/(2πTF) Гц0°
TRВремя обратного пролета для идеального транзистора0с
EGНапряжение ширины запрещенной зоны (высота барьера)1,11эВ
XTBТемпературный коэффициент для BF и BR0 
XTIТемпературный коэффициент для IS3 
KFКоэффициент спектральной плотности фликкер-шума0 
AFПоказатель спектральной плотности фликкер-шума1 

BJT, что видно из рис. D.5, смоделирован как встроенный транзистор с омическим сопротивлением RC, включенным последовательно с коллектором, с переменным сопротивлением последовательно с базой и омическим сопротивлением RE последовательно с эмиттером. Узел подложки не обязателен, по умолчанию он заземляется, если не оговаривается другое соединение.

Рис. D.5. Модель полевого транзистора BJT


R — резистор

R <+узел> <-узел> [имя модели] <значение>

Имя параметраПараметрЗначения по умолчаниюЕдиницы
RМножитель для определения сопротивления1 
TCIЛинейный температурный коэффициент0°С
ТС2Квадратичный температурный коэффициент0°C
ТСЕЭкспоненциальный температурный коэффициент0%°C

Если [имя модели] включено в директиву, а ТСЕ не определен, то сопротивление вычисляется по формуле

<значение> R(1 + TC1(Т – T>nom) + ТС2(Т – T>nom)²), где T>nom — номинальная температура.

Если же [имя модели] включено в директиву и определен параметр ТСЕ, то сопротивление вычисляется по другой формуле