Наблюдения и озарения, или Как физики выявляют законы природы - [70]

Однако электронные микроскопы отнюдь не лишены серьезных недостатков: во-первых, интенсивный поток электронов может разрушить исследуемые образцы, во-вторых, поверхность образцов должна сильно рассеивать налетающие электроны, а поэтому ее часто приходится декорировать — напылять на образцы тяжелые металлы, например платину, или же снимать с образцов реплики из металла и уже их, а не образец, снимать под увеличением.

5. Электронный и ионный проекторы

Еще большее увеличение дает безлинзовый автоэлектронный микроскоп, придуманный еще в 1936 г. Э. В. Мюллером (1911–1977). Он задумался над очень простым вопросом: для чего нужно облучать объект электронным пучком — ведь электроны имеются и в самом объекте, т. е. он решил объединить объект и излучатель.

Работа оказалась сложной и заняла много лет, хотя к концу работы идея стала очень простой, как во всех по-настоящему оригинальных изобретениях. Итак, в одном из вариантов, берется металлическая полусфера, к центру которой подведено металлическое острие, если теперь подать на эту систему высокое напряжение так, чтобы острие заряжалось отрицательно, то с острия начнут срываться электроны и устремляться к полусфере. Если эта полусфера идеальна, то вылетающие электроны имеют равную вероятность попасть в любую ее точку, но если на острие имеется, скажем, какая-нибудь молекула, то на экране появится ее тень — увеличение будет определяться отношением радиуса полусферы к радиусу кончика иглы. В таких устройствах Мюллер достиг увеличения в миллионы раз (после каждого снимка приходилось обрабатывать или даже менять полусферы, искаженные потоком электронов).

В 1951 г. Мюллер сконструировал на схожих принципах ионный проектор и смог, впервые, получить снимки биологических молекул, доменов ферромагнетиков, дефектов кристаллической структуры и т. д.

6. Использование туннельного эффекта

Нобелевскую премию 1986 г. с Эрнстом Руской разделили Герд Бинниг (р. 1947) и Гейнрих Рорер (р. 1933) за создание сканирующего туннельного (или туннелирующего) микроскопа.

Если со времен создания рентгеноструктурного анализа можно было с достоверностью установить положение атомов внутри кристаллической решетки, а более или менее точно и внутри некристаллических тел, то определить расположение частиц на поверхности во много раз сложнее. Исследования в этой области столь сложны, что Вольфганг Паули однажды воскликнул: «Поверхность, несомненно, была изобретением дьявола!»

В 1978 г. Рорер и Бинниг предложили исследовать поверхности с помощью квантово-механического эффекта туннелирования. Это явление, о котором мы говорили в главе о квантовой механике, является одним из проявлений принципа неопределенностей Гейзенберга и состоит в том, что частицы могут «туннелировать», проникать в такие узкие области, проход через которые запрещен классическими законами, в частности тогда, когда им для этого не хватает энергии, как, например, в явлении альфа-распада. Отметим, что этот эффект использовался и для получения множества данных о границах, разделяющих отдельные слои в «сэндвичах» из разных материалов.

Рорер и Бинниг избрали иной путь: они заставляли электроны туннелировать через вакуум. Основная идея их изобретения очень проста и состоит в том, чтобы сканировать поверхность твердого тела в вакууме с помощью кончика острой иглы: если между образцом и кончиком иглы приложено напряжение и расстояние между ними достаточно мало, то электроны туннелируют с острия иглы на образец. Сила туннельного тока зависит от расстояния между образцом и острием иглы и выражается вполне определенной формулой, зависящей от этого расстояния. Поэтому исследователи надеялись, водя иглой вдоль поверхности образца и измеряя ток, получить возможность «нанести на карту» расположение микроскопических (атомных размеров) холмов и долин на поверхности образца.

Как сказал позже Рорер: «Мы были совершенно уверены в успехе. С самого начала мы знали, что это будет важным продвижением вперед. Удивительно лишь то, что нам удалось так быстро достичь желаемого». Первое успешное испытание сканирующего микроскопа они провели уже весной 1981 г.: им удалось достичь разрешения «шероховатостей» на поверхности кристалла высотой всего лишь в один атом. (Понять важность и новизну чужого открытия, да еще принадлежащего незнакомым авторам, не всегда легко: рецензент журнала, куда Рорер и Бинниг послали первую статью, отверг ее как «недостаточно интересную».)

Самой большой трудностью в их работе была необходимость исключения всех источников колебаний и шумов: расстояние между острием и предметом должно контролироваться с точностью до доли диаметра атома. Поэтому даже шаги прохожих могут нарушить работу сканирующего микроскопа: его пришлось помещать на тяжелом каменном постаменте, изолированном от внешних шумов амортизаторами из сплющенных шин и т. п. Острие при этом перемещается пьезоэлектрическими устройствами, которые чутко реагируют на изменения управляющего напряжения.

Сканирующие микроскопы были затем усовершенствованы и миниатюризированы, сейчас это стандартный лабораторный прибор небольшого размера (десятки сантиметров). Он позволяет разрешать по вертикали детали размером в 0,1 ангстрема (1 ангстрем равен 10